一、采购标的名称：双束场发射扫描电子显微镜（FIB-SEM）。二、采购标的需实现的功能或目标：采购标的需集高分辨率场发射扫描电子显微镜（FE-SEM）与高性能聚焦离子束（FIB）于一体，主要功能与目标：（1）超高分辨率显微成像：低电压下具备优于******** nm的高空间分辨率成像能力，适用于各类样品的表面形貌与微观结构观察。（2）精确微纳加工与制备：利用聚焦离子束实现纳米尺度的定点切割、沉积、抛光等加工，以及透射电镜和原子探针样品等特定截面样品的自动化、高精度制备。（3）三维重构与分析：通过FIB的逐层切割与SEM的同步成像，实现对材料微观结构的三维可视化重构与定量分析。（4）集成化综合分析：系统需具备能谱仪、电子背散射衍射等扩展接口或集成能力，实现在同一平台上的形貌、成分、晶体结构等多维度综合分析。
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