折射率膜厚测试仪数量：1台设备原理及用途：材料折射率膜厚测试仪可以提供精确的、非接触、无损膜厚度测量，适用于薄膜厚度在********～50μm的聚合物材料、硅基氧化膜、硅基玻璃照础上通过改变角度产生干涉条纹(VAMFO-变角度单色条纹观测)方法进行非接触膜厚测量，避免接触损伤。资金到位或资金来源落实情况:已到位项目已具备.
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