质量测序数据;在当前支持芯片下,在每次运行时对最多12个样本进行成像。
3.测序读长:在Dx模式下,支持1×75和2×150bp的读长;在研究模式下,支持1×75bp到2×150bp的灵活读长。
4.运行时间:研究模式下,2×150bp测序平均时间需不超过29个小时;Dx模式下,2×150bp测序平均时间需不超过35个小时;可在40分钟内完成对单张芯片的扫描。
5.测序质量...
3.测序读长:在Dx模式下,支持1×75和2×150bp的读长;在研究模式下,支持1×75bp到2×150bp的灵活读长。
4.运行时间:研究模式下,2×150bp测序平均时间需不超过29个小时;Dx模式下,2×150bp测序平均时间需不超过35个小时;可在40分钟内完成对单张芯片的扫描。
5.测序质量...
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