需求概况:配置高分辨率X射线显微镜一台，对样品进行三维无损成像，分析表征样品内部的二维和三维结构，可直观地展示样品内部不同密度的微观结构、内部孔隙、微裂纹等信息。该系统适用于高分子聚合物、复合材料、金属材料、半导体器件和生物样品内部的三维高分辨成像和分析，以及研究样品在原位的状态下（力学拉伸/压缩.
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